Malvern PANalytical X'Pert PRO MPD

Possibilidades oferecidas pelo equipamento e equipa técnica:

- Difração de raios-X em geometria Bragg-Brentano (θ/2θ);

- Outras geometrias (ângulo rasante, offset, mapa de espaço recíproco);

- Acessório para baixos ângulos (até 0,5°), ideal para zeólitos e filmes finos;

- Detetor X'Celerator permitindo elevado sinal (até 40x mais que um detetor pontual);

- Monocromador secundário, beam knife, spinner e fenda programável, otimizando a linha de base;

- Resoluções até 0,04° (FWHM);

- Caraterização de amostras com identificação qualitativa de fases (HighScore/base de dados COD);

- Caraterização de nanopartículas, com determinação do tamanho das cristalites por refinamento de Rietveld;

- Determinação de espessuras em filme finos por XRR;

- Refinamento de Rietveld com caraterização e quantificação de fases.