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Difratograma de hidroxiapatite- biomateriais

 

Refinamento de Rietveld de argila com quantificação de sílica amorfa, em PowderCell

 

Refinamento de Rietveld de amostra de solo, em HighScore

 

Refletometria de filme de Ag sobre vidro (XRR)

 

  

                                                                                                               

                       Preços dos Serviços                Preparação de Amostras                     Microscopia Eletrónica de                Microscopia Eletrónica de                           Difração de raios-X

                                                                                                                                 Varrimento                                     Transmissão

   

     Equipamento:

    Malvern PANalytical X'Pert PRO MPD, radiação CuKa (la₁ =1,54060 Å and la₂ = 1,54443 Å);

    Possibilidades oferecidas pelo equipamento e equipa técnica:

• Difração de raios-X em geometria Bragg-Brentano (θ/2θ);

• Outras geometrias (ângulo rasante, offset, mapa de espaço recíproco);

• Acessório para baixos ângulos (até 0,5°), ideal para zeólitos e filmes finos;

• Detetor X'Celerator permitindo elevado sinal (até 40x mais que um detetor pontual);

• Monocromador secundário, beam knife, spinner e fenda programável, otimizando a linha de base;

• Resoluções até 0,04° (FWHM);

• Caraterização de amostras com identificação qualitativa de fases (HighScore/base de dados COD);

• Caraterização de nanopartículas, com determinação do tamanho das cristalites por refinamento de Rietveld;

• Determinação de espessuras em filme finos por XRR;

• Refinamento de Rietveld com caraterização e quantificação de fases;